Оптические приборы
8 (495) 234-77-00
8 (800) 511-91-71
1000 - 1800 (пн-чт)
1000 - 1700 (пт)
Выходные: сб, вс
 
О КОМПАНИИ   КАТАЛОГ   СПЕЦПРЕДЛОЖЕНИЕ   ДОСТАВКА   КОНТАКТЫ
   
 
 
Поиск
 
 
 
 
Каталог товаров
 
 
 
 
Для покупателей
   
 
 
Лазерный сканирующий микроскоп OLYMPUS LEXT OLS4100
 
Лазерный сканирующий микроскоп OLYMPUS LEXT OLS4100
Микроскопы Olympus широко используются для контроля качества и исследований в самых различных отраслях промышленности. Теперь, когда растут требования к точности измерения и расширяется область применения систем визуализации нано-уровня, компания Олимпас выпускает новый LEXT OLS4100. Так Olympus устанавливает новые стандарты в 3D лазерной микроскопии.
цена по запросу
Кол-во:

Добавить в корзину

Общие данные:

  • Измерительный конфокальный лазерный сканирующий микроскоп для материалографии. Предназначен для наблюдения и анализа поверхностей материалов и микроструктур с максимальным разрешением 120нм в плоскости XY и 10нм по оси Z. 
  • Общий диапазон увеличений: 108х-17280x. Возможность исследования образцов с углом наклона до 85°.
  • Представляет собой комбинацию моторизованного исследовательского оптического микроскопа и лазерного сканирующего микроскопа. Источниками света LEXT Системы является лазерный диод с длиной волны 405нм для лазерного сканирования и светодиодный источник для стандартных оптических исследований на микроскопе [BF(светлое поле), POL (поляризованный свет, поляризатор и анализатор встроены в систему), DIC (дифференциально-интерференционный контраст).
  • Дистанционный контроль функциями посредством программного обеспечения LEXT. Программное обеспечение включает в себя широкий диапазон метрологических функций для анализа поверхностей и 2D/3D-структур. Автоматическая фокусировка, центровка (парфокальность), освещенность.
  • Оптический зум - 1x - 8x (шаг 0.1х). Объективы: 2,5х, 5x, 10x, 20x, 50x, 100x. (комлпектуются в зависимости от задач).
  • Поле зрения в режиме сканирования - максимум 2,56мм x 2,56мм -  минимум 18мкм x 18мкм. Снабжен антивибрационной системой. Предлагается с механическим или  моторизованным ультразвуковым столом .  Позволяет производить панорамную сшивку 500 изображений.

 

Точность и воспроизводимость системы:

  • Воспроизводимость вертикальная при 50х: меньше чем 3σn-1= 0,012µm. Разрешение шкалы по оси Z: 0,8нм. Точность вертикальная: 0,2+L/100мкм.  Горизонтальная воспроизводимость при объективе 100х:  3σn-1= 0,02мкм.  Точность горизонтальная (XY) ±2%. 

 

Методы исследования:   

  • 1D: лазерное сканирование: быстрое линейное измерение шероховатости (до 100 мм), быстрое измерение толщины прозрачных материалов (от 1 мкм до 2 мм)
  • 2D: Цветное (CCD камера), цветное +ДИК, цветное+поляризация, лазерное сканирование, лазерное сканирование+ДИК
  • 3D:цветное/черно-белое, с ДИК или без ДИК. Возможность отображения полноцветного изображения с высоким разрешением, (наложение цвета на лазерное сканирование), отображение цветами карты высот, а также черно-белого изображения с высоким разрешением (4096х4096).

 

Возможности измерения:   

  • Многофункциональное программное обеспечение позволяет получать 2D и 3D изображения исследуемого образца. 7 режимов измерения: площадь/объем (area/volume), измерения частиц (particle), измерение шероховатости (surface roughness), измерения слоев и тонких пленок (film), автоматическое измерение края (auto edge detection) и геометрические измерения (under geometric). 
 
     
 
 
 
 
ООО "БИОМЕД СЕРВИС"
ОГРН 1157746979818
Юридический адрес: Россия, 129223, г.Москва, Мира пр-кт, д.119, стр.452
Фактический адрес: Россия, 129223, г.Москва, Мира пр-кт, д.119, стр.452

8 (495) 234-77-00
8 (800) 511-91-71
1000 - 1800 (пн-чт)
1000 - 1700 (пт)
Выходные: сб, вс

Copyright © Биомед 2010 - 2024